異頻介(jie)損(sun)自動(dong)測試儀(yi)試驗數據異常原因

1.搭(da)鉤(gou)接(jie)觸不(bu)良(liang)

　　使(shi)用(yong)掛(gua)鉤(gou)連(lian)接(jie)被(bei)測品(pin)時，掛(gua)鉤(gou)必(bi)須(xu)與被(bei)測品(pin)接觸良(liang)好，否則接觸點(dian)放電會(hui)導(dao)致(zhi)數據(ju)波動(dong)嚴(yan)重!特別是引流線(xian)氧(yang)化層過(guo)厚(hou)，或(huo)風吹線(xian)路擺動(dong)，易造成接觸不(bu)良(liang)。

　　2.接(jie)地(di)接(jie)觸不(bu)良(liang)

　　故(gu)障(zhang)中接(jie)地(di)會(hui)導(dao)致(zhi)異頻(pin)介(jie)損(sun)自動(dong)測試儀(yi)的數據和保(bao)護產(chan)生(sheng)嚴重的波動(dong)。應(ying)該(gai)刮掉接地(di)點(dian)上的油(you)漆(qi)和鐵銹，並(bing)確保(bao)0電阻(zu)接(jie)地(di)!

　　3.直(zhi)接測量CVT或末(mo)端屏(ping)蔽(bi)方法(fa)測電磁式(shi)PT

　　直(zhi)接進(jin)行測量CVT的下(xia)節耦合(he)電容會出(chu)現(xian)負介(jie)損(sun)，應改(gai)用(yong)自激(ji)法。

　　當(dang)使用(yong)末(mo)端屏(ping)蔽(bi)法測電磁式(shi)PT，造成潮(chao)濕(shi)，引起(qi)“T型網(wang)絡幹擾(rao)"發(fa)生負介(jie)損(sun)，三裙(qun)瓷套和接線端(duan)子(zi)盤(pan)需要吹幹。妳(ni)也可(ke)以使用(yong)常規(gui)方法或壓(ya)法測量。

　　4.空(kong)氣濕(shi)度(du)過(guo)大(da)

　　空(kong)氣濕(shi)度(du)大使(shi)介(jie)損(sun)測量值(zhi)進(jin)行異常可(ke)以增(zeng)大(da)(或(huo)減小(xiao)甚(shen)至為負)且(qie)不(bu)穩(wen)定，必要時可(ke)加屏(ping)蔽(bi)環(huan)。因(yin)人(ren)為加(jia)屏(ping)蔽(bi)環(huan)改(gai)變(bian)了試品(pin)電場主(zhu)要分(fen)布(bu)，此(ci)法(fa)有(you)爭(zheng)議，可(ke)參照有(you)關(guan)技術規程。

　　5.發(fa)電機(ji)供電(dian)

　　發(fa)電機(ji)電源(yuan)輸(shu)入(ru)頻(pin)率(lv)不(bu)穩(wen)定，可(ke)采用(yong)定頻50Hz模(mo)式(shi)。