支持(chi)檢測(ce)CT和PT無(wu)需外接其(qi)它輔(fu)助設(she)備，單機(ji)即(ji)可(ke)完成(cheng)所(suo)有檢測(ce)項目操作(zuo)簡便，帶有(you)智能提示，使(shi)用戶更易(yi)上(shang)手操(cao)作(zuo)

在線(xian)咨(zi)詢(xun)

產品(pin)詳(xiang)情(qing)

設(she)計用於對保護(hu)類(lei)、計(ji)量類(lei)CT/PT進(jin)行(xing)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)，適(shi)用於實驗室(shi)也適(shi)用於現場(chang)檢測(ce)。

產品(pin)別稱(cheng)：PT伏安特性綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)、互(hu)感(gan)器伏安特性綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)、CT伏安特性綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)、CT伏安特性測(ce)試(shi)儀(yi)、PT伏安特性測(ce)試(shi)儀(yi)、互(hu)感(gan)器伏安特性測(ce)試(shi)儀(yi)、伏安特性變比極(ji)性綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)、伏安特性測(ce)試(shi)儀(yi)、伏安特性綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)、FA-103伏安特性測(ce)試(shi)儀(yi)、CTPT特性綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)儀(yi)

產品(pin)參數(shu)

主(zhu)要參(can)數(shu)

項目		參數(shu)
工(gong)作(zuo)電源(yuan)		AC220V±10% 、50Hz
設(she)備輸(shu)出		0～2500V（20A峰(feng)值(zhi)）註(zhu)：0～5A為(wei)真實值(zhi)，大(da)於5A～20A為(wei)計(ji)算(suan)值(zhi)
大(da)電流(liu)輸(shu)出		0～600A
勵磁測(ce)量精(jing)度(du)		≤1.0%（0.5%讀數(shu)+0.5%量程）
CT變比測(ce)量	範(fan)圍(wei)	≤3000A/1A(15000A/5A)
	精(jing)度(du)	≤0.5%
PT變比測(ce)量	範(fan)圍(wei)	≤500kV
	精(jing)度(du)	≤0.5%
工(gong)作(zuo)環境	溫(wen)度(du)	－10℃ ～ 40℃
	濕度(du)	≤90%
尺(chi)寸(cun)		410mm × 260mm × 340mm
重量		≤25kg

註(zhu)：

1.產品(pin)外觀(guan)以(yi)實際(ji)產品(pin)為準，技術參數(shu)與型號(hao)如有(you)變動(dong)，恕(shu)不(bu)另(ling)行(xing)通(tong)知。如有(you)盜(dao)用或(huo)復(fu)印(yin)行(xing)為，將追究法律(lv)責(ze)任。

2.了解(jie)更多特(te)高(gao)壓(ya)產品(pin)信(xin)息請(qing)進入產品(pin)中心。：

產品(pin)特征

1、支持(chi)檢測(ce)CT和PT。
2、滿(man)足(zu)GB 20840.3-2013，GB 20840.2-2014等規(gui)程要求(qiu)。
3、無需外接其(qi)它輔(fu)助設(she)備，單機(ji)即(ji)可(ke)完成(cheng)所(suo)有檢測(ce)項目。
4、自(zi)帶微型快(kuai)速(su)打(da)印(yin)機(ji)、可(ke)直接現(xian)場打(da)印(yin)測(ce)試(shi)結果。
5、操作(zuo)簡便，帶有(you)智能提示，使(shi)用戶更易(yi)上(shang)手操(cao)作(zuo)。
6、大(da)屏幕(mu)液(ye)晶(jing)，圖形化顯(xian)示接口。
7、按(an)規(gui)程自(zi)動(dong)給出CT/PT（勵磁）拐點值(zhi)。
8、自(zi)動(dong)給出5%和10%誤差曲線(xian)。
9、可(ke)保存(cun)3000組測(ce)試(shi)資(zi)料(liao)，掉(diao)電後(hou)不(bu)丟(diu)失(shi)。
10、支持(chi)U盤(pan)轉(zhuan)存資(zi)料(liao)，可(ke)以(yi)通(tong)過(guo)標準的(de)PC進(jin)行(xing)讀取(qu)，並生成(cheng)WORD報告(gao)。
11、小巧輕便≤22kg，非常(chang)利(li)於(yu)現(xian)場(chang)測(ce)試(shi)。